殘余應力測定儀的基本原理
更新時間：2017-12-19 點擊次數(shù)：2896次
殘余應力測定儀的基本原理：
殘余應力測定儀的基本原理是以測量衍射線位移作為原始數(shù)據(jù)，所測得的結果實際上是殘余應變，而殘余應力是通過胡克定律由殘余應變計算得到的。
其基本原理是：當試樣中存在殘余應力時，晶面間距將發(fā)生變化，發(fā)生布拉格衍射時，產(chǎn)生的衍射峰也將隨之移動，而且移動距離的大小與應力大小相關。用波長λ的X射線，先后數(shù)次以不同的入射角照射到試樣上，測出相應的衍射角2θ，求出2θ對sin2ψ的斜率M，便可算出應力σψ。
Ｘ射線衍射方法主要是測試沿試樣表面某一方向上的內應力σφ。為此需利用彈性力學理論求出σφ的表達式。由于Ｘ射線對試樣的穿入能力有限，只能探測試樣的表層應力，這種表層應力分布可視為二維應力狀態(tài)，其垂直試樣的主應力σ3≈0(該方向的主應變ε3≠0)。
上一篇 : 布魯克貴金屬分析儀的*能與優(yōu)勢 下一篇 : 布魯克礦石分析儀的主要技術指標和特點
